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半導(dǎo)體封裝材料高低溫絕緣電阻測試系統(tǒng)

簡要描述:半導(dǎo)體封裝材料高低溫絕緣電阻測試系統(tǒng)運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測量。利用新穎的電阻測試系統(tǒng),重復(fù)性與穩(wěn)定性更好,提升了夾具的抗干擾能力,同時(shí)大大提高精確度,可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)性能研究等用途。

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-10-14
  • 訪  問  量:535

產(chǎn)品分類

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詳細(xì)介紹

品牌HC/華測應(yīng)用領(lǐng)域化工,能源,電子,汽車,綜合
溫度范圍-185℃ ~ 400℃(多段可選)加熱方式360°熱風(fēng)循環(huán)
控溫精度±0.5℃升溫斜率10℃/min(可設(shè)定)
電阻1~10^18Ω測試方法三電極法
輸入電壓220V測試體積10.5升(0.37立方英尺)
內(nèi)部尺寸(HxWxD)20.32 x 25.40 x 20.32cm外形尺寸(HxWxD)32.38 x 44.45 x 52.70cm
溫控方式PID加熱速率24°C / min
冷卻速率31°C / min樣品尺寸φ≤70mm,d≤4mm
電極材料夾具輔助材料高溫云母
絕緣材料99氧化鋁陶瓷數(shù)據(jù)傳輸USB接口/232通訊
空氣循環(huán)垂直氣流模式LN消耗5.6 lbs/hr


半導(dǎo)體封裝材料高低溫絕緣電阻測試系統(tǒng)

半導(dǎo)體封裝材料高低溫絕緣電阻測試系統(tǒng)


半導(dǎo)體封裝材料高低溫絕緣電阻測試系統(tǒng)產(chǎn)品介紹:

絕緣材料電阻評價(jià)平臺運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測量。利用新穎的電阻測試系統(tǒng),重復(fù)性與穩(wěn)定性更好,提升了夾具的抗干擾能力,同時(shí)大大提高精確度,可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)性能研究等用途。針對絕緣材料電阻評價(jià)平臺做了多項(xiàng)安全設(shè)計(jì),測試過程中在過電壓、過電流、超溫等異常情況下以保證測試過程的安全;資料保存機(jī)制,當(dāng)遇到電腦異?;蛩矔r(shí)斷電時(shí),可將資料保存于控制器中,不丟失試驗(yàn)數(shù)據(jù),設(shè)備重新開啟后可恢復(fù)原有試驗(yàn)數(shù)據(jù)。絕緣材料電阻評價(jià)平臺中的恒溫箱給每個(gè)腔室都配備了一個(gè)型號控制器,該控制器允許程序重復(fù)多達(dá)9999次。每個(gè)程序步驟包括溫度、時(shí)間和變化率參數(shù)。測試最長可達(dá)100小時(shí)。提供的內(nèi)置控制器外部接口是RS232??刂破骶哂邪粹o方便性、背光LCD、電池支持的存儲器和可設(shè)置的總線地址和波特率。

設(shè)備優(yōu)勢:

1、消除電網(wǎng)諧波對采集精度的影響

在超高阻、弱信號測量過程中、輸入偏置電流和泄漏電流都會引起測量誤差。同時(shí)電網(wǎng)中大量使用變頻器等高頻、高功率設(shè)備,將對電網(wǎng)造成諧波干擾。以致影響弱信號的采集,華測儀器公司推出的抗干擾模塊以及用最新測試分析技術(shù),實(shí)現(xiàn)了高達(dá)1fA(10-15 A)的測量分辨率,從而滿足了很多半導(dǎo)體,功能材料和納米器件的測試需求。

2、消除不規(guī)則輸入的自動(dòng)平均值功能 強(qiáng)數(shù)據(jù)處理及內(nèi)部屏蔽

自動(dòng)平均值是檢測電流的變化,并自動(dòng)將其進(jìn)行平均化的功能, 在查看測量結(jié)果的同時(shí)不需要改變設(shè)置。通過自動(dòng)排除充電電流的過渡響應(yīng)時(shí)或接觸不穩(wěn)定導(dǎo)致偏差較大。電流輸入端口全新采用大口徑三軸連接器,是將內(nèi)部屏蔽連接至GUARD(COM)線,外部屏蔽連接至GROUND的3層同軸設(shè)計(jì)。兼顧抗干擾的穩(wěn)定性和高壓檢查時(shí)的安全性。

3、采用測量前等待的方式,讓材料受熱均勻

當(dāng)溫度達(dá)到設(shè)定溫度后,樣品的均勻受熱會有一定的滯后現(xiàn)象,采用達(dá)到設(shè)備溫度保持時(shí)間,采用測量前等待的方式??梢宰尣牧鲜軣岣鶆颍瑴y量更加科學(xué)合理。

4、多種優(yōu)勢

目前國內(nèi)高溫加熱大都為管式爐或馬弗爐,主要原理為加熱絲或硅碳棒對爐體加熱,加熱與降溫過程速度慢,效率低下。也無法實(shí)現(xiàn)溫度的高精度測量,加熱區(qū)域也存在不均勻的現(xiàn)象,華測儀器通過多年研究開發(fā)了一種可實(shí)現(xiàn)高的精度溫控,高屏蔽干擾信號的循環(huán)熱風(fēng)加熱方式,在高速加熱及高速冷卻時(shí),具有均勻的溫度分布。 可實(shí)現(xiàn)寬域均熱區(qū),高速加熱、高速冷卻 ,加熱箱體整體密封,無氣氛污染。設(shè)備可組成均熱高速加熱爐,溫度斜率爐,階段加熱爐。它有效提升了加熱試驗(yàn)?zāi)芰Α?同電阻爐或其他環(huán)境箱相比,華測程控高低溫環(huán)境箱具有較寬的溫控范圍,控溫精準(zhǔn),增加了試驗(yàn)前溫度保持功能,在試驗(yàn)中也可改寫及設(shè)定溫度值,并通過優(yōu)異的屏蔽性能提高了電學(xué)測試的采集精度,無特殊的安裝條件要求同電阻爐一樣安裝簡單,并兼容各類型測試試樣。從各方面而言,都是材料電學(xué)性能測試的較好選擇!同電阻爐一樣安裝簡單,提高試驗(yàn)人員的測試效率,實(shí)現(xiàn)全新的溫度控制操作。

5、產(chǎn)品特點(diǎn):

擴(kuò)展能力:實(shí)現(xiàn)一機(jī)多用

硬件配置:系統(tǒng)運(yùn)行流暢

操作軟件:穩(wěn)定性和操作安全性

多種加溫方式:較多的應(yīng)用環(huán)境

擴(kuò)展能力,實(shí)現(xiàn)一機(jī)多用

1、采用冷熱循環(huán)測試技術(shù),可實(shí)現(xiàn)高低溫電學(xué)測試

2、采用耐高屏蔽線纜作為導(dǎo)線、以減少信號衰減、提高測試精度

3、可換裝不同類型夾具,適合多樣品

4、可實(shí)現(xiàn)勻速升溫、階梯升溫等測量功能

5、進(jìn)口溫度傳感器、PID自動(dòng)溫度控制,使測量溫度精準(zhǔn)

6、樣品受熱均勻,不存在感應(yīng)電流,達(dá)到精準(zhǔn)測量

7、10寸進(jìn)口觸摸屏設(shè)計(jì),一體化設(shè)計(jì)機(jī)械結(jié)構(gòu),穩(wěn)定、可靠

8、采用進(jìn)口高頻測試線,抗干擾能力強(qiáng),采集精度高

9、新穎三電極設(shè)計(jì)夾具,減少測量噪聲

10、Huace pro 強(qiáng)大的控制分析軟件與功能測試平臺系統(tǒng)相互兼容

強(qiáng)大的硬件配置

多核高性能處理器:處理繁重任務(wù)舉、重若輕,高功率、較強(qiáng)性能釋放。

接口:兼容多種通訊模式,具備多個(gè)數(shù)據(jù)傳輸通道。

16G內(nèi)存:支持16G內(nèi)存,250G固態(tài)硬盤,讓系統(tǒng)運(yùn)行流暢。

強(qiáng)大的操作軟件

測試系統(tǒng)的軟件平臺 Huacepro ,基于labview系統(tǒng)開發(fā),符合功能材料的各項(xiàng)測試需求,具備強(qiáng)大的穩(wěn)定性與操作安全性,并具備斷電資料的保存功能,圖像資料也可保存恢復(fù)。支持較新的國際標(biāo)準(zhǔn),兼容XP、win7、win10系統(tǒng)。

產(chǎn)品參數(shù):

溫度范圍:-185℃ ~ 400℃(多段可選)

加熱方式:360°熱風(fēng)循環(huán)

控溫精度:±0.5℃

升溫斜率:10℃/min(可設(shè)定)

電阻:1~10^18Ω

測試方法:三電極法

輸入電壓:220V

測試體積:10.5升(0.37立方英尺)

內(nèi)部尺寸:(HxWxD)20.32 x 25.40 x 20.32cm

外形尺寸:(HxWxD)32.38 x 44.45 x 52.70cm

溫控方式:PID

加熱速率:24°C / min

冷卻速率:31°C / min

樣品尺寸:φ≤70mm,d≤4mm

電極材料:銅

夾具輔助材料:高溫云母

絕緣材料:99氧化鋁陶瓷

數(shù)據(jù)傳輸:USB接口/232通訊

設(shè)備尺寸:400×450×650mm

重量:35kg

空氣循環(huán):垂直氣流模式

LN消耗:5.6 lbs/hr

電源要求:120VAC,50/60 Hz,單路,1800W

208VAC,50/60 Hz,3線, 單根,直徑1800W

208VAC,50/60Hz,4線,單根,直徑1800W

240伏交流電,50/60赫茲,單體,1800W

環(huán)境箱重量:約22公斤








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