高頻高壓絕緣電阻、介電測試系統(tǒng)

高頻高壓絕緣電阻、介電測試系統(tǒng)產(chǎn)品概述：

      系統(tǒng)通過測量被測物絕緣各個頻率下的泄漏電流，利用數(shù)據(jù)模型對測量結(jié)果進行分析從而得到固體絕緣材料的電導率、絕緣油的電導率/介損以及參考溫度下的介損、電阻等參數(shù)，由于模型能夠精確補償溫度對測試結(jié)果的影響，因此測試可在任何溫度下進行。絕緣電阻評價平臺可以用于測量電路或材料在交流信號作用下的阻抗特性的高精度電子儀器。也可以測量直流電壓下的阻抗參數(shù)，其基本原理基于交流電路理論，通過向被測對象施加一定頻率和幅值的交流電壓（或直流電壓），測量由此產(chǎn)生的電流（或電壓）響應(yīng)，進而計算得到阻抗值（包括實部電阻R和虛部電抗X，通常以復(fù)數(shù)形式Z=R+jX表示）。這一過程利用了歐姆定律及相量分析的方法，能夠揭示被測對象在不同頻率下的阻抗特性，對于分析電路性能、材料導電性及評估元器件質(zhì)量具有重要意義。對于直流測量因為系統(tǒng)內(nèi)置高壓功率放大器，也可輸出直流電壓。進行絕緣材料的直流電壓下的電阻參數(shù)。

工作原理：

  系統(tǒng)工作原理：工控機控制FPGA信號源向高壓功率放大器施加一定頻率和幅值的交流電壓信號（或直流電壓信號），高壓功率放大器進行放大到測量所需要的不同頻率的交流或直流電壓，同時施加在樣品兩端，通過電壓采集模塊測量實際電壓。通過電流采集模塊測量實際流過的電流。測量由此產(chǎn)生的電流（或電壓）響應(yīng)，進而計算得到阻抗值（包括實部電阻R和虛部電抗X，通常以復(fù)數(shù)形式Z=R+jX表示），也可以直接輸出電阻或電導參數(shù)。

產(chǎn)品六大優(yōu)勢：

寬頻測試范圍：支持從低頻到高頻的廣泛頻率范圍測試，滿足不同應(yīng)用場景需求。

高精度測量：采用先進的測量技術(shù)和算法，確保測量結(jié)果的準確性和穩(wěn)定性。

自動掃頻功能：自動進行多頻點阻抗掃描，提高測試效率。

實時顯示與存儲：實時顯示測試曲線，支持數(shù)據(jù)保存與導出，便于后續(xù)分析。

多種測量模式：流控制等多種測量模式，適應(yīng)不同測試要求。

用戶界面友好：直觀的操作界面，簡化操作流程，降低操作難度。

產(chǎn)品參數(shù)：

端口：INPUT，OUTPUT，采集，通訊，接地

輸出電壓幅值范圍 ：0 ~ 500V（AC\DC），電壓上升速率150V/μs

交流測試頻率范圍： 1mHz ~ 1KHz

輸出電壓直流偏置： ≤1V

高壓電源內(nèi)部電容：300pF

有效測量電流范圍：2×10^-13 ~ 2×10^-3A（交流峰值）

測試絕緣阻抗范圍：5000 ~ 10¹⁵Ω

電流測量誤差：≤1%

過流保護啟動：交流峰值達到40mA，5ms

校正：允許現(xiàn)場校正

系統(tǒng)軟件：