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  • HCLD-2固體絕緣材料漏電起痕試驗(yàn)設(shè)備
    HCLD-2固體絕緣材料漏電起痕試驗(yàn)設(shè)備

    更新時(shí)間：2025-02-07

    型號(hào)：HCLD-2

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    固體絕緣材料漏電起痕試驗(yàn)設(shè)備(電痕化指數(shù)試驗(yàn)儀)儀主要是模擬家用電器產(chǎn)品在實(shí)際使用中不同極性帶電部件在絕緣材料表面沉積的導(dǎo)電物質(zhì)是否引起絕緣材料現(xiàn)在爬電、擊穿短路和起火危險(xiǎn)。
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  • 華測(cè)精度高反應(yīng)快低壓漏電起痕測(cè)試儀器
    華測(cè)精度高反應(yīng)快低壓漏電起痕測(cè)試儀器

    更新時(shí)間：2024-08-26

    型號(hào)：

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    華測(cè)精度高反應(yīng)快低壓漏電起痕測(cè)試儀器是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸（2mm×5mm）的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí) （30S）定高度（35mm）滴下規(guī)定液滴體積的污染液體（0.1%NH4CL），用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力，測(cè)定其相比電痕化指數(shù)（CT1）和耐電痕化指數(shù)（PT1）。
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