簡(jiǎn)要描述:HGTZ-800華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀器器系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的hcpro軟件,具備彈性的自定義功能,可進(jìn)行電壓、電流、溫度、時(shí)間等設(shè)置,符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
品牌 | 北京華測(cè) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,綜合 |
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一、華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀器技術(shù)指標(biāo)
溫度范圍:室溫-1200℃,(反射爐加溫)配水冷機(jī));
控溫精度:±0.5℃;
測(cè)量精度:±0.25℃;
升溫斜率:800℃/min
降溫斜率:1-200℃/min(可自調(diào)整);
測(cè)量精度:0.5%;
樣品規(guī)格:直徑:20mm以內(nèi);厚度:5mm以內(nèi);
電極材料:鉑金;
測(cè)量方式:2線-4線測(cè)量方式;
供電:220V±10%,50Hz;
工作環(huán)境:0℃-55℃;
存儲(chǔ)條件:-40℃-70℃;
尺寸:750mmX660mmX360mm;
重量:25kg
二、華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀器產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
1.華測(cè)公司為針對(duì)新材料電檢測(cè)儀器全系列廠家,試驗(yàn)效率高。
2.可實(shí)現(xiàn)高溫下的勻速、階梯、降溫下的全溫度范圍的測(cè)試。效果好,且可有效避免材料磁化
3.可實(shí)現(xiàn)小于±0.5℃溫度測(cè)量誤差(限反射爐),精度控制在±0.25℃以內(nèi)。
三、產(chǎn)品應(yīng)用
多晶硅材料
石墨烯材料
石墨功能材料
半導(dǎo)體材料
導(dǎo)電功能薄膜材料
鍺類功能材料
導(dǎo)電玻璃材料
柔性透明導(dǎo)電薄膜
其它導(dǎo)電材料等
四、產(chǎn)品特點(diǎn)
快速加熱與冷卻方式
較高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許較高速加熱到高溫。同時(shí)爐體可配置水冷系統(tǒng),增設(shè)氣體冷卻裝置,可實(shí)現(xiàn)快速冷卻。
過(guò)紅外鍍金聚焦?fàn)t和溫度控制器的組合使用,可以控制樣品的溫度(遠(yuǎn)比普通加溫方式)。
不同環(huán)境下的加熱與冷卻加熱/冷卻
可用真空、氣氛環(huán)境、低溫,操作簡(jiǎn)單,使用石英玻璃制成。紅外線可傳送到加熱/冷卻室。
高溫四探針測(cè)試儀器
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