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電弱點(diǎn)測試儀器

簡要描述:電弱點(diǎn)測試儀器主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測試。該系列產(chǎn)品的主要特點(diǎn)是能根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測試,測試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定,無須將膜分切成小卷,免除了許多外來因素對測試結(jié)果的影響。測試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。

  • 產(chǎn)品型號(hào):HCRD-300
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-06-13
  • 訪  問  量:1774

詳細(xì)介紹

品牌北京華測應(yīng)用領(lǐng)域化工,能源,電子,航天,電氣

產(chǎn)品名稱:電弱點(diǎn)試驗(yàn)儀

產(chǎn)品型號(hào):HCRD-300

品牌:北京華測



一、依據(jù)標(biāo)準(zhǔn):

IEC 60674-2:1988電氣用塑料薄膜規(guī)范 第2部分_試驗(yàn)方法

GB/T 13542-92《電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》


二、適用范圍:

   主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測試。該系列產(chǎn)品的主要特點(diǎn)是能根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測試,測試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定,無須將膜分切成小卷,免除了許多外來因素對測試結(jié)果的影響。測試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。

三、設(shè)備優(yōu)點(diǎn):

    該系列產(chǎn)品的主要元器件均選用品牌(如歐姆龍,美信,BB等),有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。測量準(zhǔn)確,復(fù)現(xiàn)性好。測試過程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制,遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。擊穿電流在0~40mA連續(xù)可調(diào),復(fù)現(xiàn)性好。本機(jī)具備多重保護(hù)功能,充分考慮了操作人員及設(shè)備的性。如過壓、過流、接地保護(hù),試驗(yàn)平臺(tái)門開啟保護(hù)。

四、測試原理:

       本測試儀試驗(yàn)電壓是0-12kV交直流電壓,其波動(dòng)為±1%。測試儀在試樣弱點(diǎn)擊穿后約0.1s內(nèi)使電壓回升到原來設(shè)定的電壓。銅輥為下電極,導(dǎo)電橡膠為上電極。薄膜以0-10m/min(可調(diào))的速度移動(dòng)。遇弱點(diǎn)時(shí)擊穿,擊穿點(diǎn)自動(dòng)累積計(jì)數(shù)。膜移動(dòng)以平方數(shù)自動(dòng)計(jì)數(shù)。

五、技術(shù)參數(shù):

1、試驗(yàn)電壓:0-12kV (交直流)


  2、有效測量范圍:0~12kV

  3、控制系統(tǒng):嵌入式工控機(jī)  

  4、電壓測量精度:±1%

  5、升壓方式:SPWM

  6、膜移動(dòng)速度: 0-10m/min 連續(xù)可調(diào)

  7、數(shù)據(jù)傳輸:2個(gè)USB接口

  8、保護(hù)電流:0~40mA

  9、樣品寬度: 60~600mm

  10、輸入電壓:220V


  11、功率:1KW


六、保護(hù)設(shè)計(jì):

1、電源間斷保護(hù):如果發(fā)生電源間斷,主控電器馬上跳閘,再次來電時(shí)系統(tǒng)自動(dòng)復(fù)位。

2、高壓倉開門跳閘:無論在任何狀態(tài),只要打開高壓倉門,將使主控繼電器的線圈失電而跳閘。

3、電源保險(xiǎn)線:當(dāng)機(jī)內(nèi)故障或試品擊穿后電子開關(guān)未能及時(shí)動(dòng)作時(shí),該熔絲自動(dòng)燒斷,切斷電源。

4、接地保護(hù)(主機(jī)后外板):本機(jī)接地可防止機(jī)殼感應(yīng)高壓,保護(hù)設(shè)備和人身。沒有接地不允許通電。


多防護(hù):


該測試儀大都采用的光耦隔離方式,但光耦與隔離無非是提高儀器的采集的抗干擾處理,對于電弧放電過程中的浪涌對控制系統(tǒng)的防護(hù)起不到任何作用。
低通濾波電流監(jiān)測技術(shù):

高電壓放電過程中將產(chǎn)生高頻信號(hào)。而無論是國產(chǎn)與電流采集傳感器,大都為工頻電流傳感器。而采集過程中無法將高頻信號(hào)處理時(shí),從而造成檢測不準(zhǔn)確。無論是采用磁通門或霍爾原理所設(shè)計(jì)的傳感器存在材料產(chǎn)生弱點(diǎn)后后瞬間輸出電壓或電流信號(hào)過大,從而燒壞控制系統(tǒng)的采集部分。華測開發(fā)的低濾波電流采集傳感器將高頻雜波信號(hào)進(jìn)行相應(yīng)處理。同時(shí)華測自主開發(fā)的保護(hù)模塊來保證采集精度與保護(hù)采集元件.



雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)及隔離屏蔽技術(shù):


電弱點(diǎn)測試儀器,華測生產(chǎn)的電弱點(diǎn)試驗(yàn)設(shè)備不僅具備過壓、過流保護(hù)系統(tǒng),它*的雙系統(tǒng)互鎖機(jī)制,當(dāng)任何元器件出現(xiàn)問題或單系統(tǒng)出現(xiàn)故障時(shí),將瞬間切斷高壓。技術(shù),。



電設(shè)備主要配置:

1、測試主機(jī)一臺(tái)

2、導(dǎo)電橡膠電極兩對

3、品牌計(jì)算機(jī)一臺(tái)

4、品牌打印機(jī)一臺(tái)

5、放電裝置一套

6、產(chǎn)品說明書一份

7、產(chǎn)品合格證一份



電弱點(diǎn)測試儀器










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