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  • Huace-4華測(cè)  簡(jiǎn)易探針臺(tái)
    Huace-4華測(cè) 簡(jiǎn)易探針臺(tái)

    更新時(shí)間:2024-10-24

    型號(hào):Huace-4

    瀏覽量:917

    華測(cè) 簡(jiǎn)易探針臺(tái)是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu),測(cè)試人員把需要量測(cè)的器件放到探針臺(tái)載物臺(tái)(chuck)上,在顯微鏡配合下,X-Y移動(dòng)器件,找到需要探測(cè)的位置。
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  • HCWP華測(cè)儀器  高溫介電溫譜儀  絕緣電阻
    HCWP華測(cè)儀器 高溫介電溫譜儀 絕緣電阻

    更新時(shí)間:2024-10-24

    型號(hào):HCWP

    瀏覽量:822

    華測(cè)儀器 高溫介電溫譜儀 絕緣電阻是為了滿足材料在高溫環(huán)境下的介電測(cè)量需求而設(shè)計(jì)的。從專業(yè)角度來(lái)說(shuō),其實(shí)就是高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)。主要用于絕緣材料在不同溫 度不同頻率下的電學(xué)測(cè)試,系統(tǒng)包含高溫爐膛,阻抗分析儀,微電流表,夾具,測(cè)試軟件于一體.
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  • HCZDJC-50-600050點(diǎn)耐壓測(cè)試儀
    HCZDJC-50-600050點(diǎn)耐壓測(cè)試儀

    更新時(shí)間:2024-10-24

    型號(hào):HCZDJC-50-6000

    瀏覽量:854

    50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀主要用于電氣用鋰電池隔膜,聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下每平方米的擊穿電壓值。
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  • HCDH-4耐電弧試驗(yàn)儀
    HCDH-4耐電弧試驗(yàn)儀

    更新時(shí)間:2024-10-28

    型號(hào):HCDH-4

    瀏覽量:783

    耐電弧試驗(yàn)儀是專門為電氣絕緣材料測(cè)試而開發(fā)的高精密設(shè)備,絕緣材料抵抗由高壓電弧作用引起變質(zhì)的能力,通常用標(biāo)準(zhǔn)電弧焰在材料表面引起炭化至表面導(dǎo)電而電弧消失所需時(shí)間表示,單位是秒。
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  • Huace-4華測(cè)半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái)
    Huace-4華測(cè)半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái)

    更新時(shí)間:2024-10-28

    型號(hào):Huace-4

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    華測(cè)半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái)是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu),測(cè)試人員把需要量測(cè)的器件放到探針臺(tái)載物臺(tái)(chuck)上,在顯微鏡配合下,X-Y移動(dòng)器件,找到需要探測(cè)的位置。
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  • Huace FE-3000鐵電分析儀
    Huace FE-3000鐵電分析儀

    更新時(shí)間:2024-10-28

    型號(hào):Huace FE-3000

    瀏覽量:922

    可擴(kuò)展型 鐵電分析儀/陶瓷壓電Huace FE主機(jī)在不改變樣品連接的情況下可執(zhí)行電滯回線、脈沖、漏電流、IV、CV、擊穿測(cè)試,也可加載選件實(shí)現(xiàn)壓電、熱釋電、TSDC和電卡、阻抗分析、電阻測(cè)量等特性測(cè)試功能。
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  • HCDJC-100KV工頻電壓擊穿測(cè)試儀
    HCDJC-100KV工頻電壓擊穿測(cè)試儀

    更新時(shí)間:2024-11-05

    型號(hào):HCDJC-100KV

    瀏覽量:750

    工頻電壓擊穿測(cè)試儀采用計(jì)算機(jī)控制,采用人機(jī)對(duì)話方式完成對(duì)絕緣介質(zhì)的工頻電壓擊穿,工頻耐壓試驗(yàn),主要適用于固體絕緣材料(如:硅橡膠、絕緣漆、環(huán)氧樹脂、纖維制品、云母及其制品、塑料復(fù)合制品、陶瓷和玻璃等)介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐壓時(shí)間的測(cè)試;
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  • HTDM-10可用于多通道介電與電阻測(cè)試儀器
    HTDM-10可用于多通道介電與電阻測(cè)試儀器

    更新時(shí)間:2024-10-31

    型號(hào):HTDM-10

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    可用于多通道介電與電阻測(cè)試儀器(多通道介電測(cè)試系統(tǒng))可以用于多通道電阻、介電測(cè)試等,并可搭載阻抗分析儀、高阻計(jì)使用。
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