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  • HCDH-3華測(cè)一體式耐電弧試驗(yàn)儀
    HCDH-3華測(cè)一體式耐電弧試驗(yàn)儀

    更新時(shí)間:2024-08-30

    型號(hào):HCDH-3

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    華測(cè)一體式耐電弧試驗(yàn)儀是專門為電氣絕緣材料測(cè)試而開發(fā)的高精密設(shè)備,適于用于電氣絕緣 材料、塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、 絕緣漆等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度 和耐電壓時(shí)間的測(cè)試。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)研究等用途。根據(jù)GB 1411-78《固體電工絕緣材料高壓小電流間歇耐電弧試驗(yàn)方法》IEC 61621及ASTM D495設(shè)計(jì)、制造的
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  • HCDH-4硅橡膠耐電弧試驗(yàn)儀*
    HCDH-4硅橡膠耐電弧試驗(yàn)儀*

    更新時(shí)間:2024-08-30

    型號(hào):HCDH-4

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    硅橡膠耐電弧試驗(yàn)儀*是根據(jù) GB/T 1411-2002《固體絕緣材料耐高壓低電流電弧放電的試驗(yàn)》(等同 IEC 61621-1997)及 ASTM D495 等標(biāo)準(zhǔn)的要求設(shè)計(jì)制造的,并符合 IEC 149、UL 746A 等試驗(yàn)方法。本儀器由絕緣標(biāo)準(zhǔn)制定單位全國絕緣材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)監(jiān)制。主要用于電機(jī)、電器及家電等行業(yè)的電工用塑料、樹脂膠、絕緣漆
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  • HCDH-4硅橡膠耐電弧試驗(yàn)測(cè)試儀器
    HCDH-4硅橡膠耐電弧試驗(yàn)測(cè)試儀器

    更新時(shí)間:2024-08-30

    型號(hào):HCDH-4

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    HCDH-4硅橡膠耐電弧試驗(yàn)測(cè)試儀器是專門為電氣絕緣材料測(cè)試而開發(fā)的高精密設(shè)備,適于用于電氣絕緣材料、塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在高電壓小電流條件下的測(cè)試。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)研究等用途。
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  • HCDH-4北京華測(cè)耐電弧試驗(yàn)儀
    HCDH-4北京華測(cè)耐電弧試驗(yàn)儀

    更新時(shí)間:2024-08-30

    型號(hào):HCDH-4

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    HCDH-4北京華測(cè)耐電弧試驗(yàn)儀是專門為電氣絕緣材料測(cè)試而開發(fā)的高精密設(shè)備,適于用于電氣絕緣材料、塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在高電壓小電流條件下的測(cè)試。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)研究等用途。
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  • HCDH -4耐電弧試驗(yàn)儀
    HCDH -4耐電弧試驗(yàn)儀

    更新時(shí)間:2024-06-03

    型號(hào):HCDH -4

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    HCDH-4耐電弧試驗(yàn)儀是專門為電氣絕緣材料測(cè)試而開發(fā)的高精密設(shè)備,適于用于電氣絕緣材料、塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在高電壓小電流條件下的測(cè)試。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)研究等用途。
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  • HCWP-S高低溫介電溫譜測(cè)試儀器
    HCWP-S高低溫介電溫譜測(cè)試儀器

    更新時(shí)間:2023-08-08

    型號(hào):HCWP-S

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    高低溫介電溫譜測(cè)試儀器適用于鐵電壓電陶瓷材料、各種金屬氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究。 用于分析寬頻、高低溫條件下被測(cè)樣品的介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、因數(shù)Q等物理量。該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無機(jī)金屬新材料的應(yīng)用研究科研機(jī)關(guān)、高校、工廠等地方。
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  • HCRD-300電弱點(diǎn)測(cè)試儀器
    HCRD-300電弱點(diǎn)測(cè)試儀器

    更新時(shí)間:2024-06-13

    型號(hào):HCRD-300

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    電弱點(diǎn)測(cè)試儀器主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測(cè)試。該系列產(chǎn)品的主要特點(diǎn)是能根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試,測(cè)試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定,無須將膜分切成小卷,免除了許多外來因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。測(cè)試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。
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  • HCWP系列高溫介電溫譜試驗(yàn)儀
    HCWP系列高溫介電溫譜試驗(yàn)儀

    更新時(shí)間:2024-06-04

    型號(hào):HCWP系列

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    高溫介電溫譜試驗(yàn)儀主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)測(cè)試,系統(tǒng)包含高溫爐膛,阻抗分析儀,微電流表,夾具,測(cè)試軟件于一體,可測(cè)試材料的介電常數(shù),介質(zhì)損耗,阻抗譜Co-Co圖,機(jī)電耦合系數(shù)等,同時(shí)可分析被測(cè)樣品隨溫度,頻率,時(shí)間變化的曲線,測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購。
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