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電壓擊穿試驗儀的設(shè)備參數(shù)及產(chǎn)品優(yōu)勢

更新時間:2019-09-18      點(diǎn)擊次數(shù):969

一、設(shè)備參數(shù):

1.輸入電壓:AC 220V

2.設(shè)備功率:3kVA

3.高壓輸出:50kV(交流、直流)

4.電壓精度:<1.5%

5.升壓速度:200V/S~2000V/S(可設(shè)定)

6.電流輸出:60mA

7.電流精度:<1.5%

8.試驗方式:擊穿試驗、耐壓試驗、階梯試驗

9、耐壓時間:(可設(shè)定)

10.設(shè)備尺寸:650mm*500mm*1400mm

11.設(shè)備重量:40KG

 

二、設(shè)備優(yōu)勢:

 

TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù):

電壓擊穿試驗儀大都采用的光耦隔離方式,但光耦與隔離無非是提高儀器的采集的抗干擾處理,對于電弧放電過程中的浪涌對控制系統(tǒng)的防護(hù)起不到任何作用。華測的TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù),。

 

多級循環(huán)電壓采集技術(shù):

材料擊穿后,瞬間放電速度約為光速的1/5?1/3,通用的方法為壓降法進(jìn)行采集擊穿電壓。即變壓器的初級電壓瞬間下降一定比率來判別材料是否擊穿。顯然記錄擊穿電壓值產(chǎn)生偏差。而采用多級循環(huán)采集技術(shù)對擊穿后的電壓采集將解決此難題。

 

低通濾波電流監(jiān)測技術(shù):

高壓壓放電過程中將產(chǎn)生高頻信號。而無論是國產(chǎn)與電流采集傳感器,大都為工頻電流傳感器。而采集過程中無法將高頻信號處理時,從而造成檢測不準(zhǔn)確。無論是采用磁通門或霍爾原理所設(shè)計的傳感器存在擊穿后瞬間輸出電壓或電流信號過大,從而燒壞控制系統(tǒng)的采集部分。華測開發(fā)的低濾波電流采集傳感器將高頻雜波信號進(jìn)行相應(yīng)處理。同時華測開發(fā)的保護(hù)模塊來保證采集精度與保護(hù)采集元件。

 

雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)及隔離屏蔽技術(shù):

采用雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)應(yīng)用于電擊穿儀器,華測生產(chǎn)的電壓擊穿儀器不僅具備過壓、過流保護(hù)系統(tǒng),它*的雙系統(tǒng)互鎖機(jī)制,當(dāng)任何元器件出現(xiàn)問題或單系統(tǒng)出現(xiàn)故障時,將瞬間切斷高壓。技術(shù),。

 

SPWM電子升壓技術(shù):

目前設(shè)備大都采用SPWM電子升壓技術(shù),這一技術(shù)具有升壓速度平穩(wěn),精度高。便于維護(hù)等優(yōu)點(diǎn)是調(diào)壓器*的。

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